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XT V160尼康 X-TEK xray檢測設(shè)備
簡要描述：尼康 X-TEK xray檢測設(shè)備 XT V 160系統(tǒng)范圍具有亞微米特征識別功能，可滿足當(dāng)今對復(fù)雜電子元件進行高性能、無損檢測的需要。尼康Xi Nanotech X射線源與平板探測
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